Вы находитесь здесь:
Электронные ресурсы в тестовом доступе
| Издательство |
Характеристика ресурса |
Период доступа | Ссылка на ресурс |
|---|---|---|---|
| Global Science Press (GSP) | Global Science Press Selected Journals Collection
Global Science Press (GSP) – научная издательская компания, ориентированная на самые современные исследования в области математики, химии, физики и вычислительных наук. Коллекция Global Science Press Selected Journals Collection включает в себя 15 журналов, посвящённых различным областям математики и её междисциплинарным приложениям. Журналы коллекции распределены по нескольким ключевым тематическим областям: Руководство пользователя (на русском языке) Поработать с ресурсом вы можете: |
до 30.04.2026 | Перейти к ресурсу Global Science Press Selected Journals Collection |
| Patseer Technologies | Сервис патентной аналитики Patseer ProX
Patseer ProX – платформа для проведения исследований патентов с интегрированными аналитическими инструментами, использующая возможности искусственного интеллекта, разработанная индийской компанией PatSeer Technologies Pvt. Ltd. База данных патентного поиска, содержит информацию о более чем 172 млн. патентных публикациях, включая 134 млн. полнотекстовых документов, полученных из 108 международных патентных ведомств, в том числе из РосПатента, Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС) и Европейской патентной организации. В базе содержится информация об изобретениях и полезных моделях, промышленных образцах, SEP-патентах, компаниях и судебных разбирательствах. Платформа позволяет настраивать варианты отображения патентной информации, сохранять и экспортировать результаты поиска, анализировать найденные документы с помощью диаграмм и графиков с использованием различных групп фильтров, в том числе с использованием Искусственного Интеллекта. Большинство документов содержат аннотации на английском языке, полные тексты документов приводятся на языке оригинала. Настройки платформы позволяют использовать интерфейс на русском языке. Подробный видеообзор возможностей платформы Patseer ProX (на русском языке) Регистрация пользователей на платформе Patseer ProX (на русском языке) Охват источников базы данных Patseer ProX Поработать с ресурсом вы можете: |
до 23.04.2026 | Перейти к ресурсу Сервис патентной аналитики Patseer ProX |